简介

颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片,并生成报告。借助该软件,用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数,颗粒软件全自动化的测量,可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶。

借助颗粒系统软件,用户可随时获得数据。因此,它加快了分析速度,并提高了产品质量。

主要特点

  • 联机或脱机分析;
  • 收集颗粒的属性数据,例如当量直径、圆度、长轴短轴比、凸包度等;
  • 借助超大视野拼图软件,可获得大量颗粒的分析数据;
  • 先进的识别算法,用户自由选择默认设置或高级设置。

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