简介

元素分析线面扫功能是 EID 软件的一个可选项。元素分析线面扫功能可以揭示样品中元素的面分布情况。用户可以自定义像素分辨率和像素停留时间,进而获得元素分布情况。实时面扫算法即时统计各像素的元素含量,实时显示元素的面分布情况。因此,无论是面扫中还是面扫后,元素都可以随时标定。

可以对整张图像进行面扫,也可以对某个选定区域进行面扫,这样更节省时间。选定一条直线,则可进行线扫描分析。

先设置以下三个主要参数:扫描像素数、像素停留时间和扫描循环次数。而后,即可轻松地输出结果和生成报告。

主要特点

  • 快速、可靠地获得样品中元素的面、线分布信息;
  • 输出结果、生成报告,简单、便捷。

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