简介

金相样品插件有一些具体的优势。样品夹具可以直接固定样品,所有的样品将具有相同的工作距离,这在进行 X 射线能谱仪(EDS)分析时非常有用。金相样品表面平整是能谱结果定量的要求,然而样品的底部却可能是非常粗糙,甚至倾斜的,不使用金相样品插件装载这些样品,通常会导致样品表面不平整,这可能对能谱的定量结果产生不利的影响。

通过使用金相样品插件,金相样品的底部将不会接触到样品杯的表面,金相样品的顶部将完全夹在插件内的统一高度,同时可实现高分辨率成像和 EDS 能谱分析。金相样品插件有三种型号,可用于支持直径 25 mm(~1 英寸),32 mm(~1.25 英寸)和 40 mm(~1.5 英寸)的标准尺寸样品。用于夹紧样品的内六角扳手是标准配置。

规格参数:根据样品尺寸要求,有三种金相样品插件可供选择

  • 9 x 直径 25 mm(1 英寸),最大高度 25 mm
  • 6 x 直径 32mm(1.25 英寸),最大高度 25 mm
  • 4 x 直径 40mm(1.5 英寸),最大高度 25 mm

下载文档

 

展示

案例分析

复纳科学仪器(上海)有限公司 飞纳中国 版权所有