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第二十六届集成电路物理和失效分析国际会议(IPFA 2019)将于 2019 年 7 月 2 日 - 5 日在杭州盛大举行。作为亚洲首屈一指的集成电路失效分析和可靠性会议,每年都有专业人士、学术研究者、供应商等聚集在一起分享技术更新。

 

届时,飞纳电镜将携台式扫描电镜大样品室卓越版 Phenom XL 出席本次会议!

时间:2019 年 7 月 2 日 - 5 日

地点:杭州君悦酒店

 

飞纳电镜展位号:34 号

Ball bonding 工艺检查

 

飞纳电镜彩色光学导航窗口 + 低倍 SEM 导航窗口 + 自动马达台,帮助用户一键找到感兴趣位置,永不丢失视野。

 

 
 
通过飞纳电镜优中心样品杯,多角度检测 Bonding 质量
 
 

 
 
孔径统计分析测量系统 —— IC 芯片
 
 
结合飞纳电镜的孔径统计分析测量系统,对 IC 芯片的孔洞自动测量,简单高效地进行整体性的综合评价。
 
 
 
  
 
 
 
    
IC 芯片扫描电镜图像
 
 
光刻胶图形检查
 
 
  
 
 
MEMS 器件表面形貌观察
 
 
  
 
 
飞纳在全球半导体行业中的部分用户
 
 
 

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